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Springer Integrated Analysis of Interglacial Climate Dynamics (INTERDYNAMIC) (Englisch, Softcover, Andre Paul, Michael Schulz) (55520526)
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Wooldridge, Jeffrey M.: Econometric Analysis of Cross Section and Panel DataEconometric Analysis of Cross Section and Panel Data , Second Edition , > , Auflage: 2nd edition, Erscheinungsjahr: 20101001, Produktform: Leinen, Autoren: Wooldridge, Jeffrey M., Auflage: 10002, Auflage/Ausgabe: 2nd edition, Abbildungen: 4 figures, 19 tables; 23 Illustrations, unspecified, Themenüberschrift: BUSINESS & ECONOMICS / Econometrics, Keyword: econometrics;economics;business;economy;money;business books;strategy;economics books;food;cooking;cookbook;health;cookbooks;finance;short stories;mystery;psychology;recipes;medicine;family;sociology;modern;crime;book club books;relationships;aging;literary fiction;culinary;philosophy;death;globalization;how to;finances;chick lit;vegetarian;self help;baking;comedy;essays;diet;mental health;ghosts;college student gifts;social science;personal development;society;social;law;collection, Fachschema: Ökonometrie~Statistik / Wirtschaftsstatistik~Wirtschaftsstatistik, Warengruppe: HC/Wirtschaft/Allgemeines, Lexika, Geschichte, Fachkategorie: Ökonometrie und Wirtschaftsstatistik, Seitenanzahl: XXVII, Seitenanzahl: 1064, UNSPSC: 49019900, Warenverzeichnis für die Außenhandelsstatistik: 49019900, Verlag: The MIT Press, Verlag: The MIT Press, Länge: 236, Breite: 209, Höhe: 43, Gewicht: 1912, Produktform: Gebunden, Genre: Importe, Genre: Importe,123,87 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Springer Distortion Analysis of Analog Integrated Circuits (Englisch, Softcover, Piet Wambacq, Willy M.C. Sansen) (55380776)Springer Distortion Analysis of Analog Integrated Circuits (Englisch, Softcover, Piet Wambacq, Willy M.C. Sansen) (55380776)374,49 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Failure Analysis of Integrated Circuits, Fachbücher von Lawrence C. Wagner, C Wagner, Lawrence/Das Buch "Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques" bietet eine umfassende Einführung in die Methoden und Werkzeuge, die zur Analyse von elektrischen Ausfällen in integrierten Schaltungen verwendet werden. Es richtet sich an Fachleute und Forscher im Bereich der Halbleitertechnik und vermittelt ein grundlegendes Verständnis der häufigsten Techniken, die in der Analyse von Silizium-basierten Halbleitern eingesetzt werden. Zu den behandelten Themen gehören spezifische Anwendungen wie Dekapselung, Deprozessierung und Isolierung von Fehlerstellen sowie physikalische und chemische Analysemethoden. Das Buch legt besonderen Wert auf qualitative Aspekte und hilft den Lesenden, fundierte Entscheidungen bei der Auswahl der geeigneten Werkzeuge zu treffen. Darüber hinaus werden die Stärken, Schwächen und Einschränkungen der einzelnen Techniken ausführlich erörtert.160,49 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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